X射线荧光光谱法中，当试样的有效照射面积增大时，谱线的强度（）。

[单选题]X射线荧光光谱法是对元素的（）进行分析。A .特征光谱B .带状光谱C .连续光谱

[单选题]X射线光谱法检测记录的是（）X射线强度。A .一次B .二次C .三次

[填空题] 试举出属于光谱法的分析方法（）、原子吸收光谱法、原子荧光光谱法、紫外-可见分光光度法。

[判断题] X射线荧光光谱分析法也会对分析试样造成破坏与损伤。A . 正确B . 错误

[单选题]X射线荧光光谱仪可测出样品中的：（）.A . 部分元素的含量B . 全部元素的含量C . 矿物含量

[单选题]X射线荧光光谱仪中的第一准直器设置在试样与（）之间。A .X射线管B .晶体C .探测器

[单选题]对原子发射光谱法比对原子荧光光谱法影响更严重的因素是（）。A . 粒子的浓度B . 杂散光C . 化学干扰D . 光谱线干扰

[单选题]下述哪种干扰在原子荧光光谱法中比原子吸收光谱法更严重（）A .粒子的浓度B .背景C .散射光D .化学干扰E .光谱线干扰

[填空题] 利用X荧光光谱仪分析试样中的As、Pb时，AsKα线与PbLα线有干扰，则应选择（）线进行分析。

[问答题] 简述原子荧光光谱法的基本原理？