[问答题] Lafe使用Product X-R Chart进行监控的参数,一般要求CPK>=1.33,请问这有什么好处?
[多选题] 某工序参数使用的X-R Chart长期不会出现失控现象,我们的做法是:()。A . 继续保持该工序控制B . 重新修正该工序控制C . 考虑取消该工序控制
[问答题] Cpk=1.09的参数,在什么条件下可使用X-R Chart?
[单选题]做产品参数X-R Chart,组内样本数n=3时,则要求至少收集多少个数据?()A . 60个B . 70个C . 80个
[问答题] OP#50工序某参数X-R Chart失控后,生产主任在OP#10工序发现许多该参数Outof spec.的料,请问这种X-R Chart监控存在什么问题?
[问答题] 在lafe采用X-R Chart的参数有哪两大益处?
[问答题] 采用Histogram进行监控的参数在什么条件下可转为使用X-R Chart进行监控?
[问答题] Lafe现采用的X-R Chart可分为Product X-R Chart和Tester X-R Chart,请问它们在生产线上的作用分别是什么?
[单选题]双边规格如果控制图R Chart上的点逐渐偏于下限,则该工序参数的工序能力:()。A . CPK逐步变大B . CP逐步变大C . CPK逐步变小D . CP逐步变小
[单选题]X-R Chart控制图相应R Chart的控制下限是否为零与以下哪些因素有关:()。A . 收集Raw Data组数的多少B . 收集Raw Data计算组内均值的大小C . 收集Raw Data组内样本数的大小D . 收集Raw Data组间样本数的大小