有体积状缺陷存在，但不会在仪器示波屏上显示缺陷回波的探伤方法，可能是：（）

[单选题]有缺陷存在，但不会在仪器示波屏上显示缺陷回波的探伤方法，称为（）。A .垂直法B .表面波法C .斜射法D .穿透法

[单选题]有缺陷存在，但在仪器示波屏上不显示缺陷回波的探伤方法称为（）。A .反射法B .穿透法C .连续波法D .闭波法

[填空题] 超声波探伤，根据仪器示波屏上显示的缺陷回波进行探伤的方法，称为（）。

[单选题]锻件探伤中，示波屏上单独出现的缺陷回波称为单个缺陷回波，一般单个缺陷间距大于（）。A .30mm B .35mm C .40mm D . D.50mm

[单选题]在仪器示波屏上显示与缺陷无关信号来源有（）。A .轮廓的反射B .侧面效应C .表面状态D .无穷多

[单选题]锻件探伤时，（）会在荧光屏上产生非缺陷回波。A . 边缘效应B . 工件形状及外形轮廓C . 迟到波D . 以上全部

[单选题]锻件探伤时，那些因素会在荧光屏上产生非缺陷回波？()：A.边缘效应B.工件形状及外形轮廓C.迟到波D.以上全部

[单选题]锻件探伤时，那些因素会在荧光屏上产生非缺陷回波？()：A.边缘效应B.工件形状及外形轮廓C.迟到波D.以上全部

[单选题]锻件探伤时，哪些因素会在荧光屏上产生非缺陷回波（）A . 边缘效应B . 工件形状及外形轮廓C . 缺陷形状和取向D . 以上全部

[单选题]方形锻件垂直法探伤时，荧光屏上出现一随探头移动而游动的缺陷回波，其波幅较低但底波降低很大，该缺陷的取向可能是()：A.平行且靠近探测面B.与声束方向平