A . 在室温不低于10℃的条件下,套管主绝缘类型电容式油浸纸tanδ(%)最大值0.7(500kV套管0.5);
B . 在室温不低于10℃的条件下,套管主绝缘类型电容式气体tanδ(%)最大值1.5;
C . 在室温不低于10℃的条件下,套管主绝缘类型非电容式浇铸树脂tanδ(%)最大值2.0;
D . 在室温不低于10℃的条件下,套管主绝缘类型非电容式复合绝缘tanδ(%)最大值由供需双方商定;
E . 电容型套管的实测电容量值与产品铭牌数值或出厂试验值相比,其差值应在±5%范围内。
[填空题] 测量20kV及以上非纯瓷套管的主绝缘介质损耗角正切值tanδ和电容值,电容型套管的实测电容量值与产品铭牌数值或出厂试验值相比,其差值应在()范围内。
[填空题] 测量非纯瓷套管的介质损耗因数tgδ和电容值时,同一绕组的套管()。
[判断题]在绝缘试验时,通过测量介质损耗角的正切值tanδ来检验介质损耗的大小。()A.对B.错
[判断题]在绝缘试验时,通过测量介质损耗角的正切值tanδ来检验介质损耗的大小。()A.对B.错
[判断题]在绝缘试验时,通过测量介质损耗角的正切值tanδ来检验介质损耗的大小。( )A.对B.错
[判断题]在绝缘试验时,通过测量介质损耗角的正切值tanδ来检验介质损耗的大小。( )A.对B.错
[判断题]在绝缘试验时,通过测量介质损耗角的正切值tanδ来检验介质损耗的大小。( )A.对B.错
[判断题]在绝缘试验时,通过测量介质损耗角的正切值tanδ来检验介质损耗的大小。( )A.对B.错
[判断题]在绝缘试验时,通过测量介质损耗角的正切值tanδ来检验介质损耗的大小。( )A.对B.错
[判断题] 测量断路器电容器的介质损耗角正切值及电容值时,与产品技术条件规定的电容值的偏差应在额定电容值的-5%—+10%范围内。A . 正确B . 错误