直探头只能发射和接收纵波，波束轴线垂直于探测面，主要用于发现与探测面（）的缺陷。

[填空题] 直探头只能发射和接受纵波，波束轴线垂直于探测面．主要用于探测与探测面（）的缺陷。

[判断题] 直探头只能发射和接受纵波，波束轴线垂直于探测面，主要用于探测与探测面平行的缺陷。A . 正确B . 错误

[判断题] 斜探头主要用于探测与探测面垂直或成一定角度的缺陷。A . 正确B . 错误

[填空题] 斜探头主要用于探测与探测面（）或成一定角度的缺陷。

[填空题] 直探头主要用于探测（）的缺陷。

[填空题] 晶片与探测面平行，使超声波垂直于探测面进入被探材料的检验方法叫做（）。

[单选题]晶片与探测面平行，使超声波垂直于探测面而进入被检材料的检验方法称为()：A.垂直法B.斜射法C.表面波法

[单选题]晶片与探测面平行，使超声波垂直于探测面而进入被检材料的检验方法称为()：A.垂直法B.斜射法C.表面波法

[问答题] 斜探头主要用于探测哪些类型的缺陷？

[单选题]与探测面垂直的内部平滑缺陷，最有效的探测方法是：（）A . 单斜探头法B . 单直探头法C . 双斜探头前后串列法D . 分割式双直探头法