[判断题]

缺陷内含物的声阻抗对缺陷回波高度没有影响。

A . 正确

B . 错误

参考答案与解析:

相关试题

声阻抗是衡量介质声学特性的重要参数,温度变化对材料的声阻抗也会有影响。

声阻抗是衡量介质声学特性的重要参数,温度变化对材料的声阻抗也会有影响。A. 正确B. 错误

  • 查看答案
  • 缺陷的回波高度主要取决于其大小、形状和取向,缺陷的性质对其回波高度大小没有影响。

    [判断题] 缺陷的回波高度主要取决于其大小、形状和取向,缺陷的性质对其回波高度大小没有影响。()A . 正确B . 错误

  • 查看答案
  • 声阻抗是衡量介质声学特性的重要参数,温度变化对材料的声阻抗无任何影响。

    声阻抗是衡量介质声学特性的重要参数,温度变化对材料的声阻抗无任何影响。A. 对B. 错

  • 查看答案
  • 声阻抗

    [名词解释] 声阻抗

  • 查看答案
  • 声阻抗是()

    [单选题]声阻抗是()A .超声振动的参数B .界面的参数C .传声介质的参数D . D.以上都不对

  • 查看答案
  • 声阻抗为:()

    [单选题]声阻抗为:()A . 组织厚度³声在组织中的速度B . 组织的密度³声在组织中的速度C . 探头频率³声在组织中的速度D . 从一个界面到另一个界面的距离

  • 查看答案
  • 声阻抗为:

    [单选题]声阻抗为:A.组织厚度×声在组织中的速度B.组织的密度×声在组织中的速度C.探头频率×声在组织中的速度D.从一个界面到另一个界面的距离

  • 查看答案
  • 探头前保护膜的声阻抗公式,(Z=声阻抗)应是()

    [单选题]探头前保护膜的声阻抗公式,(Z=声阻抗)应是()A.Z保护膜=(Z晶片+Z工件)1/2B.Z保护膜=(Z晶片-Z工件)1/2C.Z保护膜=(Z晶片xZ

  • 查看答案
  • 探头前保护膜的声阻抗公式,(Z=声阻抗)应是()

    [单选题]探头前保护膜的声阻抗公式,(Z=声阻抗)应是()A.Z保护膜=(Z晶片+Z工件)1/2B.Z保护膜=(Z晶片-Z工件)1/2C.Z保护膜=(Z晶片xZ

  • 查看答案
  • 材料的声阻抗()。

    [单选题]材料的声阻抗()。A .与密度成正比,与声速成反比B .与声速成正比,与密度成反比C .与密度和声速成反比D .等于密度和声速的乘积

  • 查看答案