[判断题]

介质损耗tanδ主要反映设备绝缘的集中性缺陷。

A . 正确

B . 错误

参考答案与解析：

相关试题

测量介质损耗因数，通常不能发现的设备绝缘缺陷是（）。

[单选题]测量介质损耗因数，通常不能发现的设备绝缘缺陷是（）。A . 整体受潮；B . 整体劣化；C . 小体积试品的局部缺陷；D . 大体积试品的局部缺陷。

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    • 当绝缘内的缺陷不是整体分布性的，而是集中在某一小点，介质损耗正切值tanδ对这类局部缺陷的反应较灵敏。()

    [判断题]当绝缘内的缺陷不是整体分布性的，而是集中在某一小点，介质损耗正切值tanδ对这类局部缺陷的反应较灵敏。()A.对B.错

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    [判断题]当绝缘内的缺陷不是整体分布性的，而是集中在某一小点，介质损耗正切值tanδ对这类局部缺陷的反应较灵敏。( )A.对B.错

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