半导体材料电学性能研究实验中,少子寿命的测量过程中,光源电压应控制在TV以下,测量结束应及时关闭光源开关,以保护光源。()

A. 错

B. 对

参考答案与解析:

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半导体材料电学性能研究实验中,少子寿命的测量过程中,未放样品时调整检波电压为0后,在实验过程中不要再调检波电压调整旋钮。()

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