采用适当的探测器(例如,X 射线探伤照相中采用胶片)检测透射 X 射线的强度,从胶片上可显示出被测试工件的()部位、大小和性质

A. 原子微观结构差异的

B. 分子微观结构差异的

C. 局部缺陷或结构差异的

D. 整体结构的

参考答案与解析:

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