[单选题]

X线头影测量定位下颌平面的描述中不正确的是( )。

A.通过下颌下缘最低部的切线

B.下颌角点与下颌颏顶点间的连线

C.通过颏下点与下颌角下缘相切的线

D.通过颏前点与下颌角前切迹相切的线

E.不同方法所获得到的下颌平面并不重合

参考答案与解析:

相关试题

X线头影测量基准平面有()。

[填空题] X线头影测量基准平面有()。

  • 查看答案
  • X线头影测量基准平面有()、()、()。

    [填空题] X线头影测量基准平面有()、()、()。

  • 查看答案
  • 下颌前突患者的X线头影测量结果为()

    [单选题]下颌前突患者的X线头影测量结果为()A . SNA角增大B . SNB角增大C . SNA角和SNB角均增大D . SNA角和SNB角均减小E . SNB角减小

  • 查看答案
  • X线头影测量的主要应用有

    [多选题]X线头影测量的主要应用有A.可研究颅面生长发育B.可对牙、颅面畸形作诊断分析C.可确定错畸形的矫治设计D.可用于研究矫治过程中及矫治后的牙颌、颅面形态

  • 查看答案
  • X线头影测量的主要应用有

    [多选题]X线头影测量的主要应用有A.可研究颅面生长发育B.可对牙、颅面畸形作诊断分析C.可确定错畸形的矫治设计D.可用于研究矫治过程中及矫治后的牙颌、颅面形态

  • 查看答案
  • X线头影测量的主要应用有()

    [多选题] X线头影测量的主要应用有()A . ['可研究颅面生长发育B . 可对牙、颅面畸形作诊断分析C . 可确定错畸形的矫治设计D . 可用于研究矫治过程中及矫治后的牙颌、颅面形态结构变化E . 可作为外科正畸诊断和矫治设计依据

  • 查看答案
  • X线头影测量的主要应用有()

    [多选题]X线头影测量的主要应用有()A.可研究颅面生长发育B.C.D.可用于研究矫治过程中及矫治后的牙颌、颅面形态结构变化E.可作为外科正畸诊断和矫治设计依据

  • 查看答案
  • X线头影测量标志点“S”代表( )。

    [单选题]X线头影测量标志点“S”代表( )。A.眶点B.蝶鞍点C.鼻根点D.前鼻棘E.翼上颌裂点

  • 查看答案
  • X线头影测量标志点,“N”代表( )。

    [单选题]X线头影测量标志点,“N”代表( )。A.眶点B.蝶鞍点C.鼻根点D.前鼻棘E.翼上颌裂点

  • 查看答案
  • X线头影测量标志点,“N”代表( )。

    [单选题]X线头影测量标志点,“N”代表( )。A.眶点B.蝶鞍点C.鼻根点D.前鼻棘E.翼上颌裂点

  • 查看答案