二、填空题6.1 X射线测定的应力是（宏观应力）。6.2当材料中存在第一类第二类第三类应力时，衍射线分别发生（偏移）（宽化）（减弱）。6.3宏观应力测定时，ψ角是（试样表面与衍射线晶面夹角）。9.1电学透镜和光学透镜最相似之处在于（汇聚作用）。9.2电磁透镜和光学透镜相比，放大倍数提高（1000倍）。9.3电磁透镜的像差，与（加速电压稳定度）、（透镜加工质量）、（透镜孔径半角）因素有关。9.4影响电磁透镜分辨率的主要因素是（衍射效应）和（像差）。10.1透射电镜分辨率取决于（物镜），最后可达（0.1）nm。10.2透射电镜的两个基本操作模式是（成像）和（衍射）。如将中间镜物平面与物镜（像平面)重合，进行的是（成像）操作，如将中间镜物平面与物镜（背焦面)重合，进行的是（衍射）操作。10.3物镜光栏作用是（提高像衬度）和（降低相差、孔径角）、（进行暗场成像）。10.4中间镜作用是（________）（________）（________）。10.5影响透射电镜放大倍数的主要因素有（样品高度）（投射电流）（加速电压）。10.6透射电镜放大倍数是调节（中间镜的电流）来改变。11.1透射电子显微镜衬度主要有(质厚衬度)和(衍射衬度)。11.2复型样品通过(质厚)衬度成像，金属薄膜样品通过(衍射)衬度成像。11.4明场衍射衬度成像可用物镜光阑阻挡(衍射束)来实现，而中心暗场成像可用物镜光阑阻挡(投射束)来实现。14.1扫描电镜利用（二次电子）物理信号成像，得到（形貌）衬度，最适宜断口分析。如利用（背散射电子）物理信号成像，则得到（原子序数）衬度，实质是成分像。14.2扫描电镜的分辨率除与透镜数量有关外，还与（物理信号）和（原子区域）有关。最小分辨距离可达到(1)nm，放大范围一般为(20万倍）。14.3扫描电镜的放大倍数取决于(样品扫描振幅)。15.1电子探针利用谱仪来接收X射线以分析样品成分，两种谱仪相比，（能谱仪）分析速度快但无法分析碳等轻元素样品。（波谱仪）分析精度高且元素范围大。。15.2电子探针接收X射线分析样品成分，其工作方式有（定点分析），(线扫描)，(面扫描)。如需进行定量分析，则须采用(定点分析)，且只有(定点分（)方式）才能满足要求，其余至多达到半定量水平。15.3电子探针进行成份分析时是利用(特征x射线)。

二、填空题6.1 X射线测定的应力是（宏观应力）。6.2当材料中存在第一类第二类第三类应力时，衍射线分别发生（偏移）（宽化）（减弱）。6.3宏观应力测定时，ψ角是（试样表面与衍射线晶面夹角）。9.1电学透镜和光学透镜最相似之处在于（汇聚作用）。9.2电磁透镜和光学透镜相比，放大倍数提高（1000倍）。9.3电磁透镜的像差，与（加速电压稳定度）、（透镜加工质量）、（透镜孔径半角）因素有关。9.4影响电磁透镜分辨率的主要因素是（衍射效应）和（像差）。10.1透射电镜分辨率取决于（物镜），最后可达（0.1）nm。10.2透射电镜的两个基本操作模式是（成像）和（衍射）。如将中间镜物平面与物镜（像平面)重合，进行的是（成像）操作，如将中间镜物平面与物镜（背焦面)重合，进行的是（衍射）操作。10.3物镜光栏作用是（提高像衬度）和（降低相差、孔径角）、（进行暗场成像）。10.4中间镜作用是（________）（________）（________）。10.5影响透射电镜放大倍数的主要因素有（样品高度）（投射电流）（加速电压）。10.6透射电镜放大倍数是调节（中间镜的电流）来改变。11.1透射电子显微镜衬度主要有(质厚衬度)和(衍射衬度)。11.2复型样品通过(质厚)衬度成像，金属薄膜样品通过(衍射)衬度成像。11.4明场衍射衬度成像可用物镜光阑阻挡(衍射束)来实现，而中心暗场成像可用物镜光阑阻挡(投射束)来实现。14.1扫描电镜利用（二次电子）物理信号成像，得到（形貌）衬度，最适宜断口分析。如利用（背散射电子）物理信号成像，则得到（原子序数）衬度，实质是成分像。14.2扫描电镜的分辨率除与透镜数量有关外，还与（物理信号）和（原子区域）有关。最小分辨距离可达到(1)nm，放大范围一般为(20万倍）。14.3扫描电镜的放大倍数取决于(样品扫描振幅)。15.1电子探针利用谱仪来接收X射线以分析样品成分，两种谱仪相比，（能谱仪）分析速度快但无法分析碳等轻元素样品。（波谱仪）分析精度高且元素范围大。。15.2电子探针接收X射线分析样品成分，其工作方式有（定点分析），(线扫描)，(面扫描)。如需进行定量分析，则须采用(定点分析)，且只有(定点分（)方式）才能满足要求，其余至多达到半定量水平。15.3电子探针进行成份分析时是利用(特征x射线)。