用垂直法以相同探测灵敏度探测同一试件同深度上的两个缺陷，调节衰减器使其回波降至屏高的50％，前一个缺陷回波至此高度时衰减器读数是10dB，后一个缺陷回波至此高度时衰减器读数是40dB则（）。

[单选题]尺寸和深度都相同的缺陷，在相同探伤灵敏度下探测，回波最高的是最大表面与波束轴线（ ）。A．呈75°角且平滑的缺陷B．呈75°角且粗糙的缺陷C．呈90°角且平滑的缺陷D．相垂直且粗糙的缺陷

[单选题]尺寸和深度都相同的缺陷，在相同探伤灵敏度下探测，回波最高的是最大表面与波束轴线（）。A .呈75°角且平滑的缺陷B .呈75°角且粗糙的缺陷C .呈90°角且平滑的缺陷D .相垂直且粗糙的缺陷

[单选题]以相同的探测灵敏度探测位于粗晶铸件和经过调质锻件中的缺陷，如两者探测面状态一样，同处深度200mm处的缺陷回波高度也一样，则两者的缺陷：（）A .当量相同B .铸件中的大C .锻件中的大D .上述都不对

[判断题] 以相同的探测灵敏度探测粗晶铸件或经过调质锻件中的缺陷，如两者探测面状态一样，在相同深度时缺陷的回波高度也一样，则两者的缺陷铸件中的大。A . 正确B . 错误

[判断题] 深度相同但表面状态不同的缺陷，在相同探伤灵敏度下，两者的回波高度不同。A . 正确B . 错误

[判断题] 探测灵敏度的高低，应由试件检验人员决定。A . 正确B . 错误

[单选题]处于同深度上的一个表面状态粗糙的缺陷和同样尺寸但表面光滑的缺陷，在相同探伤灵敏度下且波束垂直射及时，后者的回波高度（ ）。A．与前者一样B．比前者低C．比前者高D．比前者高而且显示位置提前

[单选题]处于同深度上的一个表面状态粗糙的缺陷和同样尺寸但表面光滑的缺陷，在相同探伤灵敏度下且波束垂直射及时，后者的回波高度（）。A .与前者一样B .比前者低C .比前者高D .比前者高而且显示位置提前

[单选题]用试件底面的方法校准探测灵敏度时，底面所在部位应平整（）。A . 无缺陷B . 有规则的缺陷C . 有小缺陷D . 以上均不是

[单选题]探测距离均为100mm的底面，用同样规格直探头以相同灵敏度探测时，下列哪种底面回波最高、（）A . 与探测面平行的大平底面B . R200的凹圆柱底面C . R200的凹球底面D . R200的凸圆柱底面