以相同的探测灵敏度探测位于粗晶铸件和经过调质锻件中的缺陷，如两者探测面状态一样，同处深度200mm处的缺陷回波高度也一样，则两者的缺陷：（）

[判断题] 以相同的探测灵敏度探测粗晶铸件或经过调质锻件中的缺陷，如两者探测面状态一样，在相同深度时缺陷的回波高度也一样，则两者的缺陷铸件中的大。A . 正确B . 错误

[单选题]用垂直法以相同探测灵敏度探测同一试件同深度上的两个缺陷，调节衰减器使其回波降至屏高的50％，前一个缺陷回波至此高度时衰减器读数是10dB，后一个缺陷回波至此高度时衰减器读数是40dB则（）。A .前一个缺陷大于后一个B .后一个缺陷大于前一个C .两者一样大D .两者大小关系不确定

[单选题]锻件探伤中，若缺陷垂直于探测面且缺陷面有曲折或较粗糙时，若采用高灵敏度探伤，其反射波特征是（）A .反射波峰尖锐B .反射波稳定但较波幅低C .反射波幅低，宽度较大

[单选题]用探测面为平面的对比试块中 φ 2mm平底孔校准的探伤灵敏度，去探测一个探测面为圆柱面的试件，发现一个深度和回波高度均与试块相同的缺陷，则该缺陷的当量。（ ）A．等于φ2mm平底孔B．比φ2mm平底孔大C．比φ2mm平底孔小D．不小于φ2mm平底孔

[单选题]锻件超声波探伤时，探测灵敏度的校验可以使用()：A.AVG曲线B.参考试块C.工件的大平底D.以上都是

[单选题]锻件超声波探伤时，探测灵敏度的校验可以使用()：A.AVG曲线B.参考试块C.工件的大平底D.以上都是

[判断题] 双技术探测器的探测灵敏度比单技术探测器要高。（）A . 正确B . 错误

[填空题] 探测铸件时因表面粗糙，为确保足够的灵敏度，采用（）较好。

[单选题]锻件探伤中，若缺陷垂直于探测面，且缺陷稍有曲折或较粗糙时，若采用高灵敏度探伤，其反射波特征是()A.反射波峰尖锐B.反射波稳定但较波幅低C.反射波幅低

[单选题]锻件探伤中，若缺陷垂直于探测面，且缺陷稍有曲折或较粗糙时，若采用高灵敏度探伤，其反射波特征是()A.反射波峰尖锐B.反射波稳定但较波幅低C.反射波幅低