A. 打点
B. 扎针调试
C. 扎针测试
D. 上片
晶圆检测工艺中,在进行上片之前需要进行( )操作。A. 导片B. 加温、扎针调试C. 扎针测试D. 打点
晶圆检测工艺中,在进行打点之后,需要进行的操作是( )。A. 加温、扎针调试B. 扎针测试C. 烘烤D. 外检
在扎针测试过程中,针印是落在晶圆的哪个位置上。A. 晶粒(Die)中央B. 焊点(PAD)中央C. 划片槽D. 晶圆(Wafer)中央
在晶圆在进行扎针测试的过程中,在MAP图界面可能会看到()。A. 沿边直接剔除区域B. 故障区域C. 待测区域D. 测试合格区域
在进行打点调试时,需要在晶圆的()进行打点调试,直至墨点合格。A. 沿边直接剔除区域B. 测试不合格区域C. 沿边直接剔除区域或测试不合格区域D. 测试合格区域
1晶圆检测工艺流程中,使用全自动探针台对晶圆测试时,探针台的常规参数设置不包括()A. 步进范围B. 批次信息C. 晶圆尺寸D. 目镜倍数
晶圆制造工艺在()无尘车间内进行。A. 三十万级B. 千级C. 百级D. 十万级
在半导体制造中,用于去除晶圆表面不需要的材料的工艺是?A. 光刻B. 刻蚀C. 清洗D. 离子注入
[问答题] 晶圆的英文是什么?简述晶圆制备的九个工艺步骤。
工艺宽容度是指工艺范围比较宽,在晶圆表面达到所需要尺寸规范的可能性就越大。A. 正确B. 错误