A. $T = \frac{\overline{X} - \mu_0}{S/\sqrt{n}}$，$|T| > t_{\frac{\alpha}{2}}(n-1)$
B. $U = \frac{\overline{X} - \mu_0}{\sigma/\sqrt{n}}$，$|U| > u_{\frac{\alpha}{2}}$
C. $T = \frac{\overline{X} - \mu_0}{S/\sqrt{n}}$，$|T| > t_{\frac{\alpha}{2}}(n)$
D. $\chi^2 = \frac{(n-1)S^2}{\sigma^2}$，$\chi^2 > \chi_{\frac{\alpha}{2}}^2(n-1)$
设总体 X sim N(mu, sigma^2), X_1, X_2, ldots, X_n 是来自总体 X 的样本，据此样本检验假设 H_0: mu = mu
设总体 X sim N(mu,1)，检验 H_0: mu = mu_0，对 H_1: mu neq mu_0，在显著水平 alpha=0.01 下，则拒绝域是【
设总体 X sim N(mu, sigma^2)，mu 和 sigma^2 均未知，统计假设取为 H_0: mu = mu_0，H_1: mu neq mu_0
设总体 X sim N(mu , sigma^2)，从 X 中抽得简单随机样本:X_1, X_2, dotsc, X_n ，检验假设 H_0: mu = mu_
设总体 X sim N(mu , sigma^2)，从 X 中抽得简单随机样本:X_1, X_2, dotsc, X_n ，检验假设 H_0: mu = mu_
设 X_1, X_2, ..., X_n 为来自总体 X sim N(mu, 9) 的样本, overline(X) 为样本均值.对于检验假设 H_0: mu
关于总体均值的检验 H_0: mu = mu_0, H_1: muA. $t \geq t_\alpha(n-1)$B. $t \leq -t_\alpha(n
设 X_1, X_2, ldots, X_n 是来自正态总体 N(mu_0, sigma^2) 的简单随机样本，其中 mu_0 已知，sigma^2 > 0
设总体 X sim N(mu, sigma^2)，mu 未知时对 sigma^2 进行检验: H_0: sigma^2 = sigma_0^2; H_1:
设总体 X sim N(mu, 1), X_1, X_2, ..., X_n 是取自 X 的样本。对于假设检验 H_0: mu = 0, H_1: mu neq